EDAX OIM Analysis™ – 전자 후방산란 회절(EBSD) 매핑 데이터를 분석하고 이해하는 데 있어 최고의 미세구조 시각화 및 분석 도구입니다. 단 한 번의 클릭으로 이 강력한 도구가 어떻게 대규모의 다차원 데이터 세트를 매핑하거나 가장 포괄적인 분석 포트폴리오를 활용하여 도전적인 소재를 특성화할 수 있는지 확인해 보세요. OIM Analysis는 소재의 특성에 대한 전례 없는 통찰을 제공할 뿐만 아니라, 초보자와 전문가 모두가 EBSD 분석을 쉽게 접근할 수 있게 합니다.
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