세계 최초이자 상용화된 유일한 다이렉트 전자후방산란 회절(EBSD) 검출기로, 최저 3 kV에서 비교할 수 없는 분해능을 제공합니다. Direct electron detection 시스템은 기존 EBSD 시스템으로 분석하기 어려운 빔 민감성 재료, 페로브스카이트(perovskite), 세라믹 또는 반도체 재료에 이상적입니다.
이 혁신적인 시리즈는 단일 전자 검출(single-electron detection)을 활용하여 연구를 발전시키는 데 필요한 고품질 EBSD 패턴과 뛰어난 민감성을 제공합니다.
Clarity 모델:
Clarity는 단일 전자를 검출할 수 있는 민감성을 갖춘 획기적인 하이브리드 픽셀 직접 검출 기술을 사용합니다. 입사 전자가 실리콘 내에서 여러 전자-정공 쌍을 생성하면, 바이어스 전압이 전하를 CMOS 검출기로 이동시키고 각 신호를 계수합니다. 이 방법은 매우 민감하여 기존의 형광스크린이 광전 시스템을 사용하는 기존 EBSD 검출기로는 보이지 않는 개별 전자를 검출할 수 있습니다.
Zero Read Noise를 기반으로 전례 없는 민감성과 이미지 품질 제공
Beam-sensitive materials analysis
Traditional materials
이 혁신적인 시리즈는 단일 전자 검출(single-electron detection)을 활용하여 연구를 발전시키는 데 필요한 고품질 EBSD 패턴과 뛰어난 민감성을 제공합니다.
Clarity 모델:
Clarity는 단일 전자를 검출할 수 있는 민감성을 갖춘 획기적인 하이브리드 픽셀 직접 검출 기술을 사용합니다. 입사 전자가 실리콘 내에서 여러 전자-정공 쌍을 생성하면, 바이어스 전압이 전하를 CMOS 검출기로 이동시키고 각 신호를 계수합니다. 이 방법은 매우 민감하여 기존의 형광스크린이 광전 시스템을 사용하는 기존 EBSD 검출기로는 보이지 않는 개별 전자를 검출할 수 있습니다.
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