전자현미경에서의 이미징 및 미세 분석을 위한 청결한 시료 준비는 필수적입니다. TEM(Transmission Electron Microscopy) 분석을 위해서는 시료가 미세구조나 조성을 변경하지 않고 준비되어야 합니다.
오염은 일반적으로 여러 원인에서 발생합니다: 시료나 시료 홀더의 부주의한 접촉, 전자현미경 컬럼 오염, 준비 과정에서 사용된 접착제나 용제 등이 주요 원인입니다.
NanoClean 시스템은 다양한 기술로 준비된 다양한 재료에서 오염을 제거합니다. 시료 홀더는 포트를 통해 Plasma Chamber 에 삽입됩니다. 다양한 전자현미경 제조업체의 포트가 제공되며, 이들은 10초 이내에 쉽게 교환할 수 있습니다.
NanoClean은 시료와 홀더를 전자현미경에 삽입하기 직전에 청소합니다. 낮은 에너지 inductively coupled high-frequency downstream plasma는 시료 표면을 효과적으로 청소하며, 시료의 원소 조성이나 구조적 특성을 변경하지 않습니다. 고도로 오염된 시료는 2분 이내에 청소할 수 있습니다.
NanoClean은 대부분의 상용 TEM(Transmission Electron Microscopy)과 STEM(Scanning Transmission Electron Microscopy)에 대해 하나 또는 두 개의 측면 입력 시료 홀더를 쉽게 수용할 수 있으며, SEM(Scanning Electron Microscopy) 또는 표면 과학 분석 전에 대량 시료를 청소할 수 있습니다. 시스템은 고객이 선택한 specimen holder port, pumping port assembly 및 blank plug assembly를 포함합니다
포트는 다음과 같은 전자현미경 제조업체용으로 제공됩니다:
전자현미경에서의 이미징 및 미세 분석을 위한 청결한 시료 준비는 필수적입니다. TEM(Transmission Electron Microscopy) 분석을 위해서는 시료가 미세구조나 조성을 변경하지 않고 준비되어야 합니다.
오염은 일반적으로 여러 원인에서 발생합니다: 시료나 시료 홀더의 부주의한 접촉, 전자현미경 컬럼 오염, 준비 과정에서 사용된 접착제나 용제 등이 주요 원인입니다.
NanoClean 시스템은 다양한 기술로 준비된 다양한 재료에서 오염을 제거합니다. 시료 홀더는 포트를 통해 Plasma Chamber 에 삽입됩니다. 다양한 전자현미경 제조업체의 포트가 제공되며, 이들은 10초 이내에 쉽게 교환할 수 있습니다.
NanoClean은 시료와 홀더를 전자현미경에 삽입하기 직전에 청소합니다. 낮은 에너지 inductively coupled high-frequency downstream plasma는 시료 표면을 효과적으로 청소하며, 시료의 원소 조성이나 구조적 특성을 변경하지 않습니다. 고도로 오염된 시료는 2분 이내에 청소할 수 있습니다.
NanoClean은 대부분의 상용 TEM(Transmission Electron Microscopy)과 STEM(Scanning Transmission Electron Microscopy)에 대해 하나 또는 두 개의 측면 입력 시료 홀더를 쉽게 수용할 수 있으며, SEM(Scanning Electron Microscopy) 또는 표면 과학 분석 전에 대량 시료를 청소할 수 있습니다. 시스템은 고객이 선택한 specimen holder port, pumping port assembly 및 blank plug assembly를 포함합니다
포트는 다음과 같은 전자현미경 제조업체용으로 제공됩니다:
