집속 이온 빔(FIB) 밀링은 최신 재료들을 준비하는 데 널리 사용되는 기술로, 투과 전자 현미경(TEM) 시료를 준비하는 방법을 제공합니다. 이러한 첨단 재료들을 다룰 때의 도전 과제는 전자 투과성이 있고, 인공물(artifact)이 없는 시료를 만드는 것입니다.
FIB는 TEM 시료를 준비하는 데 매우 효과적이지만, high-energy liquid metal ion source를 사용할 경우 종종 시료의 비정질화(amorphization), 갈륨 이식(gallium implantation) 또는 그 두 가지가 동시에 발생할 수 있습니다.
PicoMill 시스템은 FIB 기술을 보완하는 이상적인 솔루션으로, 최적의 시료 품질을 제공하면서 시료 준비의 전반적인 처리량을 향상시킵니다. 최종 박리 과정을 별도로 진행하는 방식으로 추가적인 능력을 제공합니다.
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FIB는 TEM 시료를 준비하는 데 매우 효과적이지만, high-energy liquid metal ion source를 사용할 경우 종종 시료의 비정질화(amorphization), 갈륨 이식(gallium implantation) 또는 그 두 가지가 동시에 발생할 수 있습니다.
PicoMill 시스템은 FIB 기술을 보완하는 이상적인 솔루션으로, 최적의 시료 품질을 제공하면서 시료 준비의 전반적인 처리량을 향상시킵니다. 최종 박리 과정을 별도로 진행하는 방식으로 추가적인 능력을 제공합니다.
