이 장비는 완전 자동화된 테이블형 아르곤 이온 밀링 시스템으로, 밀링 매개변수를 유연하게 조정할 수 있도록 설계되었습니다. 평면 및 단면 시료의 대규모 밀링을 지원하며, 최대 직경 50mm의 시료를 처리할 수 있습니다.
세 개의 독립적으로 조정 가능한 TrueFocus 이온 소스를 활용하여, 이온 밀링으로 달성할 수 있는 가장 넓고 균일한 평면 영역을 생성합니다. 또한, 환경 민감성 소재를 SEM(Scanning Electron Microscope) 또는 FIB(Focused Ion Beam)로 직접 전달할 수 있는 기능을 제공합니다.
이 장비는 완전 자동화된 테이블형 아르곤 이온 밀링 시스템으로, 밀링 매개변수를 유연하게 조정할 수 있도록 설계되었습니다. 평면 및 단면 시료의 대규모 밀링을 지원하며, 최대 직경 50mm의 시료를 처리할 수 있습니다.
세 개의 독립적으로 조정 가능한 TrueFocus 이온 소스를 활용하여, 이온 밀링으로 달성할 수 있는 가장 넓고 균일한 평면 영역을 생성합니다. 또한, 환경 민감성 소재를 SEM(Scanning Electron Microscope) 또는 FIB(Focused Ion Beam)로 직접 전달할 수 있는 기능을 제공합니다.
