오늘날의 첨단 소재 분석에서 TEM은 재료 구조와 물성을 연구하는 데 가장 효과적인 기술로 평가받고 있습니다. TEM Mill은 TEM 영상 및 분석에 필요한 얇고 전자 투과성이 우수한 시료를 제작하는 데 탁월한 도구입니다. 저각도의 이온 밀링과 저에너지 이온 소스 작동을 결합하면 방사선 손상과 시료 과열을 최소화할 수 있습니다.
이질적인 재료의 균일한 박막화를 지원하는 저각 밀링은 층상 소재, 복합 소재, 단면 TEM(XTEM) 시료 제작 시 특히 유용합니다.
TrueFocus 이온 소스 2개 (독립 조절 가능)
광범위한 작동 에너지에서 작은 빔 직경 유지 (100 eV ~ 10 keV)
액체 질소로 냉각되는 시료 스테이지 (옵션)
각 이온 소스의 빔 전류 직접 측정을 위한 Faraday cups
독립적인 이온 소스 가스 제어
조절 가능한 밀링 각도 (−15° ~ +10°)
밀링 중 실시간 관찰 및 이미지 캡처
자동 종료 기능
X-Y 조정 가능한 시료 홀더 및 로딩 스테이션 (옵션)
진공 또는 불활성 가스 전송 캡슐 (옵션)
오늘날의 첨단 소재 분석에서 TEM은 재료 구조와 물성을 연구하는 데 가장 효과적인 기술로 평가받고 있습니다. TEM Mill은 TEM 영상 및 분석에 필요한 얇고 전자 투과성이 우수한 시료를 제작하는 데 탁월한 도구입니다. 저각도의 이온 밀링과 저에너지 이온 소스 작동을 결합하면 방사선 손상과 시료 과열을 최소화할 수 있습니다.
이질적인 재료의 균일한 박막화를 지원하는 저각 밀링은 층상 소재, 복합 소재, 단면 TEM(XTEM) 시료 제작 시 특히 유용합니다.
TrueFocus 이온 소스 2개 (독립 조절 가능)
광범위한 작동 에너지에서 작은 빔 직경 유지 (100 eV ~ 10 keV)
액체 질소로 냉각되는 시료 스테이지 (옵션)
각 이온 소스의 빔 전류 직접 측정을 위한 Faraday cups
독립적인 이온 소스 가스 제어
조절 가능한 밀링 각도 (−15° ~ +10°)
밀링 중 실시간 관찰 및 이미지 캡처
자동 종료 기능
X-Y 조정 가능한 시료 홀더 및 로딩 스테이션 (옵션)
진공 또는 불활성 가스 전송 캡슐 (옵션)
