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에너지 분산형 X선분석장비 Genesis XM2

>>>검출기의 자세한 것은 이쪽으로.
 
Genesis XM2
에너지 분산형 X선분석장비
전자현미경에 장착하여 관찰 영역에 대한 정성정량 분석과
Mapping & Linescan 을 할 수 있습니다.
재료를 보다 정확하게 해석하기 위한 기능과 모든 사람에게
있어서 사용하기에 편리한 조작성을 추구 하였습니다.

  • 조작이 간편하여 초보자라도 쉽게 사용할 수 있습니다.
  • 검출기의 에너지 분해능이 높고, 고감도입니다.
  • 누구든지 분석해도 같은 결과를 얻을 수 있습니다.
  • 비 전도성 샘플에서도 정확하게 분석할 수 있습니다.
  • mapping의 결과를 자유롭게 검증할 수 있습니다.
  •  
       
    간단하게 정확한 분석을 할 수 있는 Genesis 소프트웨어
    화면 우측으로 항상 컨트롤 패널이 표시되어
    분석의 흐름에 따라서 배치된 버튼을 위로부터
    순서에 클릭해 나가는 것만으로 분석이 완료합니다.
     
       

    분해능의 차이에 따른 스펙트럼 예
    Light element 의 분해능이 매우 우수합니다.
    1962년 부터 축적된 노하우와 최신의 프로세스 기술로
    light element 의 분해능이 가장 뛰어납니다.
     
       
    누구든지 분석해도 같은 결과를 얻을 수 있습니다.
    정성분석은 자동버튼으로 간단히 할 수 있습니다.
    또 자동 정성분석 결과는 클릭 한번으로 쉽게 확인할 수
    있습니다. 실제 스펙트럼(붉은색)과 HPD(하늘색 실선)
    가 정확히 일치해야 완벽한 정성분석 입니다.
    특별한 지식이나 노하우 없이도 누구라도 쉽게 완벽한
    정성분석을 할 수 있습니다.
     
       
    다양한 분석 조건에 대응이 가능 합니다.
    정량 분석은, 사전에 미리 등록된 보정 계수 등이 일절 없는,
    완전한 Standard를 실현하고 있습니다.
    그 때문에, 계수 작성에 의한 분석 조건에 묶이지 않고,
    다양한 조건으로 정확한 정량 분석 을 할 수가 있습니다.

    비 전도성 샘플에서도 정확한 분석이 가능합니다.
    X-ray의 흡수나 저진공으로 인한 빔 스커트 효과 및 X-ray
    의 감소를 보정하여 올바른 정량분석을 할 수 있습니다.

     
       
    분석 결과의 재검토가 자유롭습니다.
    mapping은, 모든 image의 스펙트럼을 보존합니다.
    mapping 후, 스펙트럼의 추출, Mapping의 재구축,
    Line Scan 작성이 간단하고,
    결과의 재검토가 자유자재입니다.