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SDD 검출기 Apollo

>>>그 외 검출기의 자세한 것은 이쪽으로.
 
Apollo 시리즈
실리콘 드리프트(SDD) 검출기
LN2를 사용하지 않는 고해상도의 프리미엄 SDD 검출기로
정성정량, Mappimg, Linescan 등의 분석에 매우 뛰어납니다.

  • 작고 가벼움.
  • 액체질소(LN2) 를 사용안함
  • 초당 100만 카운트의 초 고속 Mapping을 지원
  • Light element 의 분석이 매우 우수함
  •  
       
    초 고속 Mapping 의 실현.
    Apollo SDD는 초당 최대 100만 카운트의 X-선을 처리합니다.

    분석 결과의 재검토가 언제든지 가능.
    Mapping 결과는, 물론 Spectrum map 에 대응
    Spectrum의 수집은 물론, 미량 성분의 검출이나, 정량 Mapping까지, 분석 데이터를 정확하게 해석.

     
       
    매우 뛰어난 감도의 light element 분석능력.
    지금까지의 SDD는, light element의 분석이 곤란했습니다
    Apollo 시리즈 실리콘 드리프트 검출기는, 혁신 기술로,
    light element 분석의 문제를 해결 했습니다.
    (B,C,N,O 경원소의 Apollo XV에 의한 분석예)
     
       
    모든 EDAX Micro Analysis 가 하나의 시스템에서 가능함.
    모든 EDAX micro analysis system의 EDS 검출기는, Apollo 시리즈 실리콘 드리프트 검출기로 업그레이드가 가능합니다.

  • Trident EDS/WDS/EBSD 통합 시스템
    • EDS ApolloEDS Apollo 실리콘 드리프트 검출기
    • WDS LambdaSpec 평행 빔 파장 분산형 X선검출기
    • EBSD HIKARI 초고속형 검출기
     
       
    Apollo XNEW
    LN2(액체질소)를 사용하지 않으며 많은 양의 X-선 처리가 가능함.
    가격대비 성능이 매우 우수한 경제 모델.

    형식Apollo X
    검출 범위Be(4)~U(92)
    냉각 방식펠티어 냉각
    검출 소자 면적10mm²
    스펙트럼 분해능127 eV이하
    Peak to background15,000 : 1

     
       
       
    Apollo XPNEW
    LN2(액체질소)를 사용하지 않으며
    고해상도의 스펙트럼 분해능과
    경원소(B,C,N,O)분석이 탁월한 프리미엄 모델

    형식Apollo XP
    검출 범위Be(4)~U(92)
    냉각 방식펠티어 냉각
    검출 소자 면적10mm²
    스펙트럼 분해능125eV이하
    Peak to background15,000 : 1

     
       
    Apollo XLNEW
    Apollo X 보다 3배 이상 감도가 뛰어난 프리미엄 모델.
    E-Beam 전류가 약한 Cold FE-SEM에 매우 적합함.

    형식Apollo XL
    검출 범위Be(4)~U(92)
    냉각 방식펠티어 냉각
    검출 소자 면적30mm²
    스펙트럼 분해능129eV이하
    Peak to background9,000 : 1