Genesis Apex

 
Overview

정확한 X-ray 미세분석 결과를 얻기 위해선 분석장비가 가장 중요합니다. 분석장비는 검출기, 디지털 신호 처리장치, 분석 소프트웨어로 구성되어 있습니다. Genesis Apex는 EDS X-ray 미세분석의 기술적인 리더로서 45년간 축적된 경험을 바탕으로 분석장비의 모든 부분을 향상시켰습니다. Genesis Apex 시스템은 Apollo SDD 시리즈의 최신 SDD 검출기 칩 기술로 디자인 되었고, 새롭게 혁신된 디지털 신호 처리장치인 DPP III 와 EDS 소프트웨어의 선두주자인 GENESIS Version 6.0 이포함되어 있습니다.

소프트웨어

Genesis 는 객관적이고 정확한 정성,정량분석을 바탕으로 빠른 X-ray Mapping과 자동화된 입자 분류를 시행하여 다양한 X-ray 미세분석 응용에 대해 재료의 특성에 대한 해답을 제시합니다. Genesis 6 의 최신버전에는 Export ID와 SnapShot 을 포함한 새롭게 향상된 많은 특징들이 포함되어 있습니다. EDS의 기능을 강화하기 위하여 Genesis는 최적의 Peak를 얻기 위해 혁신적인 신개념 원소 증명법인 Export ID로 보다 더 진보 되었습니다.

SnapShot은 시편과 전자빔의 상호작용을 검토하기 위하여 사용자 지정 시간 간격으로 스펙트럼을 자동으로 수집할 수 있습니다. 강력하고 사용이 쉬운 Genesis X-ray 미세 분석 소프트웨어는 정확하며 유연한 분석을 위해 단일 window user interface를 채택하고 있습니다. User interface는 하나의 소프트웨어 패키지 내에서 미세분석 기술과 모든 필요한 Tool의 사용 및 검출기 제어가 가능하여 보다 더 빠른 사용환경을 제공합니다.

소프트웨어는 사용이 매우 편리한 COPILOT 패널로 제어되는데 이는 90/90 규칙이 적용된 독자적인 Genesis 기술로서 90% 이상의 사용자가 90%이상의 시간 동안 가장 많이 사용되는 기능을 적용한 것 입니다. COPILOT은 사용자가 스펙트럼, Image 또는 Map 수집 시 직선으로 배열된 버튼을 순서대로 누르게 디자인 되어 있습니다. 숙련된 사용자는 변수의 선택과 변경이 마우스 우측 버튼 클릭과 끌어 내림 메뉴로 간단히 사용할 수 있습니다.

Genesis 소프트웨어는 디지털 이미지, 스펙트럼, Mapping & Linescan 수집을 포함하여 모든 정성,정량분석이 가능합니다. Drift correction, Live spectral Mapping 그리고 모든 데이터의 리뷰가 가능한 Advanced spectral mapping은 사용자에게 다양한 Mapping의 형태와 기능을 제공합니다.

전기부품

검출기

. 최신 SDD 칩 기술을 이용해서, 아폴로 SDD 시리즈는 모든 엑스선 미량 분석의 필요조건을 만족시키기 위하여 동작을 선택할수 있습니다. 칩 크기의 범위 와 에너지 분해능은 ultra fast X-ray mapping의 간단한 정성분석의 응용으로 가능합니다